Файл:Сканирующий зондовый микроскоп и шероховатость кварцевой пластины.jpg

Размер этого предпросмотра: 800 × 600 пкс. Другие разрешения: 320 × 240 пкс | 640 × 480 пкс | 807 × 605 пкс.

Исходный файл ‎(807 × 605 пкс, размер файла: 242 Кб, MIME-тип: image/jpeg)

Этот файл находится на Викискладе. Сведения о нём показаны ниже.

Викисклад — централизованное хранилище для свободных файлов, используемых в проектах Викимедиа.

Краткое описание

Описание	Русский: атомно-силовая микроскопия сканирующий зондовый микроскоп наноэдьюкатор English: We examine the rough surface of the sample using a nano eductor. Unlike a scanning tunneling microscope, both conductive and non-conductive surfaces can be examined with an atomic force microscope.
Дата	15 ноября 2011
Источник	Собственная работа
Автор	Дерепко Виолетта Николаевна

Я, владелец авторских прав на это произведение, добровольно публикую его на условиях следующей лицензии:

Этот файл доступен по лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International

Вы можете свободно:

делиться произведением – копировать, распространять и передавать данное произведение
создавать производные – переделывать данное произведение

При соблюдении следующих условий:

атрибуция – Вы должны указать авторство, предоставить ссылку на лицензию и указать, внёс ли автор какие-либо изменения. Это можно сделать любым разумным способом, но не создавая впечатление, что лицензиат поддерживает вас или использование вами данного произведения.

Нажмите на дату/время, чтобы посмотреть файл, который был загружен в тот момент.

	Дата/время	Миниатюра	Размеры	Участник	Примечание
текущий	21:17, 30 мая 2020		807 × 605 (242 Кб)	Deremurka	Uploaded own work with UploadWizard

Следующая страница использует этот файл: