'''Особенность-ориентированное сканирование''' (ООС, {{lang-en|FOS — feature-oriented scanning}})<ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|date=|year=2004|month=|day=|title=Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology|trans_title=|journal=Nanotechnology|volume=15|issue=9|pages=1135-1151|publisher=IOP|location=UK|issn=0957-4484|pmid=|pmc=|doi=10.1088/0957-4484/15/9/006|bibcode=|oclc=|id=|url=http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#feature2004|language=|format=PDF|accessdate=12 Августа 2009|laysummary=|laysource=|laydate=|quote=}}</ref><ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|date=|year=2007|month=|day=|title=Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition|trans_title=|journal=Measurement Science and Technology|volume=18|issue=3|pages=907-927|publisher=IOP|location=UK|issn=0957-0233|pmid=|pmc=|doi=10.1088/0957-0233/18/3/046|bibcode=|oclc=|id=|url=http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#automatic2007|language=|format=PDF|accessdate=12 Августа 2009|laysummary=|laysource=|laydate=|quote=}}</ref><ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|date=|year=2009|month=|day=|title=Availability of feature-oriented scanning probe microscopy for remote-controlled measurements on board a space laboratory or planet exploration rover|trans_title=|journal=Astrobiology|volume=9|issue=5|pages=437-442|publisher=Mary Ann Liebert|location=USA|issn=1531-1074|pmid=|pmc=|doi=10.1089/ast.2007.0173|bibcode=|oclc=|id=|url=http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#availability2009|language=|format=PDF|accessdate=12 Августа 2009|laysummary=|laysource=|laydate=|quote=}}</ref> — метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп|сканирующем зондовом микроскопе]] (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве точек привязки зонда микроскопа. Метод ООС заключается в том, что в ходе последовательных переходов от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности производится измерение относительного расстояния между ними, а также измерение топографии окрестностей этих особенностей, называемых сегментами поверхности. Такой подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода — объектно-ориентированное сканирование.
