Дифракция отражённых электронов: различия между версиями
[непроверенная версия] | [непроверенная версия] |
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Alxmel (обсуждение | вклад) |
Ботильда (обсуждение | вклад) →Трехмерное картирование с использованием сфокусированного ионного пучка: орфография с помощью AWB |
||
Строка 40:
== Трехмерное картирование с использованием сфокусированного ионного пучка ==
Существует несколько методик получения трехмерных карт с использованием [[Сфокусированный ионный пучок|СИП]]. Общим для них является последовательное снятие слоев вещества с помощью сфокусированного ионного пучка и последующего картирования полученной области образца. Современные
|