Особенность-ориентированное сканирование: различия между версиями

'''Особенность-ориентированное сканирование''' (ООС)<ref name="ref1">R. V. Lapshin, [http://www.nanoworld.org/homepages/lapshin/publications.htm#feature2004 “Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology”], Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004.</ref> — метод прецизионного измерения нанотопографии поверхности, а также других её свойств и характеристик на [http://ru.wikipedia.org/wiki/%D0%A1%D0%BA%D0%B0%D0%BD%D0%B8%D1%80%D1%83%D1%8E%D1%89%D0%B8%D0%B9_%D0%B0%D1%82%D0%BE%D0%BC%D0%BD%D0%BE-%D1%81%D0%B8%D0%BB%D0%BE%D0%B2%D0%BE%D0%B9_%D0%BC%D0%B8%D0%BA%D1%80%D0%BE%D1%81%D0%BA%D0%BE%D0%BF сканирующем зондовом микроскопе] (СЗМ), при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве точек привязки зонда микроскопа. Метод ООС заключается в том, что в ходе последовательных переходов от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности, производится измерение относительного расстояния между ними, а также измерение топографии окрестностей этих особенностей — сегментов. Такой подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода — объектно-ориентированное сканирование.