Темнопольная микроскопия: различия между версиями

Основным ограничивающим фактором метода является то, что только малая часть падающего света в итоге формирует изображение, поэтому необходимо применять достаточно мощные источники света, что иногда приводит к повреждениям образца (сейчас используют иногда лазеры).

 

{|

|[[Файл:Diamond Plate DF.jpg|thumb|300px|Изображение полированной алмазной пластины, наблюдаемое в микроскопе яркого поля ]]

|[[Файл:DF DiamondPlate Image.jpg|thumb|300px|Та же пластина в микроскопе темного поля ]]

|}