Дифракция отражённых электронов: различия между версиями

* Изображение зерен и межзеренныхмежзёренных границ

Картирование производится методом автоматического индексирования по узлам некоторой сетки на поверхности образца. Чем мельче будет выбрано зерно сетки, тем более детальная информация будет получена. Но при этом может значительно увеличиться время эксперимента. Необходимо соблюсти баланс детальности во времени исследования в зависимости от задач эксперимента. Очевидным результатом картирования являются крайне наглядные и привлекательные карты, но все же основным результатом подробная информация о зернах, межзеренныхмежзёренных границах, текстуре.

Существует несколько методик получения трехмерных карт с использованием [[Сфокусированный ионный пучок|СИП]]. Общим для них является последовательное снятие слоев вещества с помощью сфокусированного ионного пучка и последующего картирования полученной области образца. Современные программные пакеты позволяют проводить такие исследования в практически автоматическом режиме. Полученные данные позволяютговоритьпозволяют говорить о характере взаимрасположения, форме и т. д. частей исследуемого вещества(исследование форм, взаиморасположение, ориентацйиюориентацию зерен, исследование межзеренных границ). Минусом является огромнейший объем (до нескольких Гб. на образец) данных, малый физический объем исследуемого образца (линейные размеры порядка нескольких микрон). Однако такого рода информация не может быть получена другими методами анализа.

== Изучение текстуры и межзеренныхмежзёренных границ ==

Из информации, полученной картированием можно выделить области с определенными преимущественными кристаллическими направлениями — [[Текстура (металлографическая)|текстурой]]. Возможно построение полюсных и обрантныхобратных полюсных фигур. Получение карт особых границ, и, как говорилось выше, полнейшей статистике по ним.