Особенность-ориентированное сканирование: различия между версиями

[непроверенная версия][непроверенная версия]
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Нет описания правки
Нет описания правки
Строка 3:
В ходе ООС, переходя от одной особенности поверхности к расположенной по соседству другой особенности поверхности, производится измерение относительного расстояния между особенностями, а также измерения рельефов окрестностей этих особенностей. Описанный подход позволяет просканировать заданную область на поверхности по частям, после чего восстановить целое изображение из полученных фрагментов. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода – объектно-ориентированное сканирование.
 
Под особенностями поверхности понимаются любые элементы её рельефа, которые в широком смысле выглядят как холм или яма. Примерами особенностей (объектов) поверхности являются: [[Атом|атомы]], [[МеждоузлиеДефекты кристалла|междоузлия]], [[Молекула|молекулы]], [[Зерно (кристаллическое)|зёрна]], [[Наночастица|наночастицы]], кластеры, [[Кристаллит|кристаллиты]], [[Квантовая точка|квантовые точки]], наноостровки, столбики, поры, короткие [[Нанопроводник|нанопроводники]], короткие наностержни, короткие [[Нанотрубка|нанотрубки]], [[Вирус|вирусы]], [[Бактерия|бактерии]], [[Органелла|органеллы]], [[Клетка|клетки]] и т. п.
 
[[File:Р. В. Лапшин, Особенность-ориентированное сканирование (ООС), Рис. 1.png|thumb|Изображение поверхности углеродной плёнки, полученное способом ООС (АСМ, прерывистый контакт). В качестве особенностей использовались углеродные кластеры (холмики) и межкластерные области (ямки).]]