Особенность-ориентированное сканирование: различия между версиями

[непроверенная версия][непроверенная версия]
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Нет описания правки
м викификация
Строка 9:
ООС предназначено для высокоточного измерения рельефа поверхности (см. Рис.), а также других её свойств и характеристик. Кроме того, ООС позволяет получить более высокое, чем при обычном сканировании, пространственное разрешение. Благодаря ряду встроенных в ООС приёмов практически отсутствуют искажения, вызываемые тепловыми дрейфам и [[Ползучесть|ползучестями]] ([[Крип|крипами]]).
 
Области применения ООС: [[метрология]] поверхности, прецизионное позиционирование зонда, автоматическая характеризация поверхности, автоматическая модификация/стимуляция поверхности, автоматическая манипуляция нанообъектами[[нанообъект]]ами, нанотехнологические процессы сборки "снизу вверх", согласованное управление аналитическими и технологическими зондами в многозондовых устройствах, управление [[Атомный ассемблер|атомными/молекулярными ассемблерами]], управление зондовыми [[Нанолитограф|нанолитографами]] и др.
 
== См. также ==