Анализ траекторий наночастиц: различия между версиями
| [отпатрулированная версия] | [непроверенная версия] |
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Tufonkin (обсуждение | вклад) |
Tufonkin (обсуждение | вклад) |
||
Строка 34:
Измеренная для каждой частицы усредненная интенсивность рассеяния может быть использована для дискриминации фракций наночастиц по материалу.
Для частиц размером, много меньшим длины волны, справедлив [[Рэлеевское рассеяние|закон рассеяния Рэлея]]. [[Интенсивность излучения|Интенсивность]] <math>I\,</math> излучения, рассеянного частицей диаметром <math>d\,</math>, зависит от следующих факторов:
:<math> I = I_0 \frac{ 1+\cos^2 \theta }{2 R^2} \left( \frac{ 2 \pi }{ \lambda } \right)^4 \left
где <math>I_0\,</math> — интенсивность падающего неполяризованного пучка с длиной волны <math>\lambda\,</math>,
:<math>R\,</math> — расстояние до частицы,
:<math>\theta\,</math> — угол рассеяния,
:<math>\tilde{n}\,</math> — комплексный [[Показатель преломления|показатель преломления]] материала частиц
<math>I_0\,</math>, <math>R\,</math>, <math>\theta\,</math> и <math>\lambda\,</math> постоянны в ходе эксперимента для всех частиц, поэтому выражение упрощается до
:<math> I \sim {d}^6 R_i \,</math>
где <math>R_i\,</math> — рассеивающая способность материала частицы, <math>R_i = \left( \frac{ \tilde{n}^2-1}{ \tilde{n}^2+2 } \right)^2</math>
Таким образом, на графике <math>I(d)\,</math> частицы, состоящие из одного и того же материала, с некоторой экспериментальной погрешностью должны ложиться на кривую <math>d^6\,</math>. При наличии частиц, состоящих из разных материалов, на этом графике будут наблюдаться несколько кривых<ref>D.Griffiths, P.Hole, J.Smith, A.Malloy, B.Carr "Size and Count of Nanoparticles by Scattering and Fluorescence Nanoparticle Tracking Analysis (NTA)"[http://materiales.azc.uam.mx/area/Ingenieria_Materiales/investigación/2261204/cuan%20calif/Cuan%20TechConWo2010/CD/Nanotech2010/pdf/1169.pdf]</ref>.
| |||