Дифракция отражённых электронов: различия между версиями

'''Дифракция отражённых электронов (ДОЭ)''' — микроструктурная [[Кристаллография|кристаллографическая]] методика, используемая для исследования кристаллографических ориентаций многих материалов, которая может использоваться для исследования текстуры или преимущественных ориентаций [[Монокристалл|моно-]] или [[поликристалл]]ического материала. ДОЭ может использоваться для индексирования и определения семи [[Кристаллическая система|кристаллических систем]], также применяется для картирования кристаллических ориентаций, исследования дефектов, определения и разделения [[Термодинамическая фаза|фаз]], изучение [[Межзёренная граница|межзёренных границ]] и морфологии, картирования микродеформаций и т. д. Традиционно такой тип исследований проводился с помощью [[Рентгеноструктурный анализ|рентгеноструктурного анализа]], [[
{{не переведено 3|Нейтронная дифракция|нейтронной дифракции]]|en|Neutron diffraction}} и [[Дифракция электронов|дифракции электронов]] в [[Просвечивающий электронный микроскоп|ПЭМ]].