Дифракция отражённых электронов: различия между версиями

'''[[Дифракция]] отражённых электронов (ДОЭ)''' — микроструктурная [[Кристаллография|кристаллографическая]] методика, используемая для исследования кристаллографических ориентаций многих материалов, которая может использоваться для исследования текстуры или преимущественных ориентаций [[Монокристалл|моно-]] или [[поликристалл]]ического материала. ДОЭ может использоваться для индексирования и определения семи [[Кристаллическая система|кристаллических систем]], также применяется для картирования кристаллических ориентаций, исследования дефектов, определения и разделения [[Термодинамическая фаза|фаз]], изучение [[Межзёренная граница|межзёренных границ]] и морфологии, картирования микродеформаций и т. д. Традиционно такой тип исследований проводился с помощью [[Рентгеноструктурный анализ|рентгеноструктурного анализа]],

{{не переведено 3|Нейтронная дифракция|нейтронной дифракции|en|Neutron diffraction}} и [[Дифракция электронов|дифракции электронов]] в [[Просвечивающий электронный микроскоп|ПЭМ]].

Существует несколько методик получения трехмерных карт с использованием [[Сфокусированный ионный пучок|СИП]]. Общим для них является последовательное снятие слоев вещества с помощью сфокусированного ионного пучка и последующего картирования полученной области образца. Современные программные пакеты позволяют проводить такие исследования в практически автоматическом режиме. Полученные данные позволяют говорить о характере взаимрасположения, форме и т. д. частей исследуемого вещества(исследование форм, взаиморасположение, ориентацию зерен, исследование межзеренных границ). Минусом является огромнейший объём (до нескольких Гб. на образец) данных, малый физический объём исследуемого образца (линейные размеры порядка нескольких микрон), а также деструкционная природа эксперимента. Однако такого рода информация не может быть получена другими методами анализа. Отдельным вопросом стоит собственно реконструкция трехмерного объема материала.