Анализ траекторий наночастиц: различия между версиями
| [непроверенная версия] | [непроверенная версия] |
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Tufonkin (обсуждение | вклад) |
Tufonkin (обсуждение | вклад) |
||
Строка 46:
Таким образом, на графике <math>I(d)\,</math> частицы, состоящие из одного и того же материала, с некоторой экспериментальной погрешностью должны ложиться на кривую <math>d^6\,</math>. При наличии частиц, состоящих из разных материалов, на этом графике будут наблюдаться несколько группировок точек, относящихся к разным кривым<ref>D.Griffiths, P.Hole, J.Smith, A.Malloy, B.Carr "Size and Count of Nanoparticles by Scattering and Fluorescence Nanoparticle Tracking Analysis (NTA)"[http://materiales.azc.uam.mx/area/Ingenieria_Materiales/investigación/2261204/cuan%20calif/Cuan%20TechConWo2010/CD/Nanotech2010/pdf/1169.pdf]</ref>.
Необходимо отметить, что на практике строгое разделение двух ветвей, относящихся к различным материалам частиц, наблюдается по ряду причин довольно редко:
* Значительные вариации измеренной интенсивности частиц вследствие различного расположения относительно [[Фокальная плоскость|фокальной плоскости]] объектива и оси лазерного пучка. Этот эффект является основным источником экспериментальных погрешностей (разброса точек) на графиках <math>I(d)\,</math>.
* Насыщение пикселей камеры (пересвет) для центральной области пятна наиболее ярких частиц. Это приводит к появлению плато на степенной зависимости.
* Непрерывное, а не дискретное изменение эффективных оптических свойств материала частиц или значительные вариации в их форме. В этом случае наблюдается не степенная зависимость, а непрерывно заполненный точками сектор между двумя степенными функциями.
== Анализ флуоресцирующих частиц ==
| |||