Дифракция отражённых электронов: различия между версиями
| [отпатрулированная версия] | [отпатрулированная версия] |
Содержимое удалено Содержимое добавлено
MBHbot (обсуждение | вклад) м →Ссылки: удаление {{stub}} из статей более 750 слов согласно ВП:Ф/В#Зачистка стабов-2 |
|||
Строка 5:
[[Нейтронография|нейтронной дифракции]] и [[Дифракция электронов|дифракции электронов]] в [[Просвечивающий электронный микроскоп|ПЭМ]].
Основана на [[Дифракция Брэгга|дифракции Брэгга]] отражённых [[электрон]]ов. Проводится в [[РЭМ|растровом электронном микроскопе]] с ДОЭ-приставкой. Последняя состоит из люминесцентного экрана, вводящегося в камеру с образцом РЭМ, [[ПЗС-матрица|CCD-камеры]]… Вертикальный пучок электронов падает на наклонённый образец (
В мире ДОЭ распространена уже более 15 лет. Является устоявшейся востребованной методикой.
| |||