Сканирующий туннельный микроскоп: различия между версиями

м
→‎Принцип работы: Создание ссылок
м (→‎Принцип работы: Создание ссылок)
== Принцип работы ==
 
В СТМ острая металлическая игла подводится к образцу на расстояние нескольких [[ангстрем]] ({{nobr|0.1 [[Нанометр|нм]]}}). При подаче на иглу относительно образца небольшого [[Потенциал#Физика и химия|потенциала]] возникает [[туннельный ток]]. Величина этого тока [[Экспонента|экспоненциально]] зависит от расстояния образец-игла. Типичные значения силы тока — {{nobr|1-1000 [[Пико-|п]][[Ампер|А]]}} при расстояниях образец-игла около {{nobr|1 [[Ангстрем|Å]]}}. Сканирующий туннельный микроскоп первый из класса [[Сканирующий зондовый микроскоп|сканирующих зондовых микроскопов]]; [[Атомно-силовой микроскоп|атомно-силовой]] и [[Ближнепольная оптическая микроскопия|сканирующий ближнепольный оптический микроскопы]] были разработаны позднее.
 
В процессе сканирования игла движется вдоль поверхности образца, туннельный ток поддерживается стабильным за счёт действия обратной связи, и показания следящей системы меняются в зависимости от топографии поверхности. Такие изменения фиксируются, и на их основе строится карта высот.