Особенность-ориентированное позиционирование: различия между версиями

'''Особенность-ориентированное позиционирование''' (ООП, {{lang-en|FOP — feature-oriented positioning}})<ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=2004|title=Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology|journal=Nanotechnology|volume=15|issue=9|pages=1135-1151|publisher=IOP|location=UK|issn=0957-4484|doi=10.1088/0957-4484/15/9/006|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#feature2004|format=PDF}}</ref><ref>{{cite book|author=R. V. Lapshin|year=2011|contribution=Feature-oriented scanning probe microscopy|title=Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology|editor=H. S. Nalwa|volume=14|pages=105-115|publisher=American Scientific Publishers|location=USA|isbn=1-58883-163-9|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#fospm2011|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=Р. Лапшин|year=2014|title=Особенность-ориентированная сканирующая зондовая микроскопия: прецизионные измерения, нанометрология, нанотехнологии “снизу-вверх”|journal=Электроника: Наука, Технология, Бизнес|volume=|issue=Спецвыпуск “50 лет НИИФП”|pages=94-106|publisher=Техносфера|location=Российская Федерация|issn=1992-4178|doi=|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#feature2014|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=D. W. Pohl, R. Möller|year=1988|title=“Tracking” tunneling microscopy|journal=Review of Scientific Instruments|volume=59|issue=6|pages=840-842|publisher=AIP Publishing|location=USA|issn=0034-6748|doi=10.1063/1.1139790|url=http://scitation.aip.org/content/aip/journal/rsi/59/6/10.1063/1.1139790|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=B. S. Swartzentruber|year=1996|title=Direct measurement of surface diffusion using atom-tracking scanning tunneling microscopy|journal=Physical Review Letters|volume=76|issue=3|pages=459-462|publisher=American Physical Society|location=USA|issn=0031-9007|doi=10.1103/PhysRevLett.76.459|url=http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.76.459|format=PDF}}</ref> — способ прецизионного перемещения зонда [[Сканирующий зондовый микроскоп|сканирующего микроскопа]] по исследуемой поверхности, при котором особенности (объекты) поверхности используются в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа. ООП представляет собой упрощённую разновидность [[Особенность-ориентированное сканирование|особенность-ориентированного сканирования]] (ООС), когда вместо получения топографического изображения некоторой поверхности выполняется только перемещение зонда по особенностям этой поверхности. Перемещение осуществляется из начальной точки A поверхности (окрестности начальной особенности) в конечную точку B (окрестность конечной особенности) вдоль некоторого маршрута, проходящего через промежуточные особенности поверхности. Кроме указанного допустимо использование другого названия метода — объектно-ориентированное позиционирование.