Шаблон:Сканирующая зондовая микроскопия: различия между версиями

|заголовок1 = Основные методытипы микроскопов

[[Сканирующий атомно-силовой микроскоп|Атомно-силовой]]{{·}} [[Сканирующий туннельный микроскоп|Сканирующий туннельный]]{{·}} [[Ближнепольный оптический микроскоп|Ближнепольный оптический]]

[[Электросиловой микроскоп|Электросиловой]]{{·}} [[Электрохимический сканирующий туннельный микроскоп|Электрохимический сканирующий туннельный]]{{·}} [[Метод Кельвина]]{{·}} [[Магнитно-силовой микроскоп|Магнитно-силовой]]{{·}} [[Магниторезонансная силовая микроскопия|Магниторезонансный силовой]]{{·}} [[Ближнепольная оптическая микроскопия|Ближнепольный оптический]]{{·}} [[Фототермальная микроспектроскопия]]{{·}} [[Сканирующая емкостная микроскопия|Сканирующий емкостной]]{{·}} [[Scanning gate microscopy|Scanning gate]]{{·}} [[Сканирование датчиком Холла]]{{·}} [[Сканирующая микроскопия методом ионной проводимости|Ионной проводимости]]{{·}} [[Спиновая поляризационная сканирующая туннельная микроскопия|Спиновой поляризационный сканирующий туннельный]]{{·}} [[Сканирующая микроскопия напряжения]]{{·}} [[Нанолитография]]{{·}} [[Особенность-ориентированное сканирование]]

[[Кантилевер]]{{·}}[[Лазер]] {{·}} [[Фотодиод]]

[[Нанотехнологии]]{{·}} [[Микроскоп]]{{·}} [[Микроскопия]]{{·}} [[Материаловедение]]