Особенность-ориентированное сканирование: различия между версиями

'''Особенность-ориентированное сканирование''' (ООС, {{lang-en|FOS – feature-oriented scanning}})<ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=2004|title=Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology|journal=Nanotechnology|volume=15|issue=9|pages=1135-1151|publisher=IOP|location=UK|issn=0957-4484|doi=10.1088/0957-4484/15/9/006|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#feature2004|format=PDF}} (имеется [http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#feature2004 перевод на русский]).</ref><ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=2007|title=Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition|journal=Measurement Science and Technology|volume=18|issue=3|pages=907-927|publisher=IOP|location=UK|issn=0957-0233|doi=10.1088/0957-0233/18/3/046|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#automatic2007|format=PDF}} (имеется [http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#automatic2007 перевод на русский]).</ref><ref>{{cite book|author=R. V. Lapshin|year=2011|contribution=Feature-oriented scanning probe microscopy|title=Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology|editor=H. S. Nalwa|volume=14|pages=105-115|publisher=American Scientific Publishers|location=USA|isbn=1-58883-163-9|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#fospm2011|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=Р. Лапшин|year=2014|title=Особенность-ориентированная сканирующая зондовая микроскопия: прецизионные измерения, нанометрология, нанотехнологии “снизу-вверх”|journal=Электроника: Наука, Технология, Бизнес|volume=|issue=Спецвыпуск “50 лет НИИФП”|pages=94-106|publisher=Техносфера|location=Российская Федерация|issn=1992-4178|doi=|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#feature2014|format=PDF}}</ref><ref name="automatic1998">{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=1998|title=Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners|journal=Review of Scientific Instruments|volume=69|issue=9|pages=3268-3276|publisher=AIP|location=USA|issn=0034-6748|doi=10.1063/1.1149091|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#automatic1998|format=PDF}}</ref><ref name="approach2015">{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=2015|title=Drift-insensitive distributed calibration of probe microscope scanner in nanometer range: Approach description|journal=Applied Surface Science|volume=359|issue=|pages=629-636|publisher=Elsevier B. V.|location=Netherlands|issn=0169-4332|doi=10.1016/j.apsusc.2015.10.108|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#approach2015|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=R. V. Lapshin|year=2009|title=Availability of feature-oriented scanning probe microscopy for remote-controlled measurements on board a space laboratory or planet exploration rover|journal=Astrobiology|volume=9|issue=5|pages=437-442|publisher=Mary Ann Liebert|location=USA|issn=1531-1074|doi=10.1089/ast.2007.0173|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#availability2009|format=PDF}}</ref><ref>{{cite conference|author=Р. В. Лапшин|year=2014|title=Наблюдение гексагональной сверхструктуры на пиролитическом графите методом особенность-ориентированной сканирующей туннельной микроскопии|booktitle=XХV Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2014)|volume=1|pages=316-317|publisher=Российская академия наук|location=2-6 июня, Черноголовка, Россия|isbn=978-5-89589-068-4|url=http://www.lapshin.fast-page.org/publications.htm#observation2014|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=D. W. Pohl, R. Möller|year=1988|title=“Tracking” tunneling microscopy|journal=Review of Scientific Instruments|volume=59|issue=6|pages=840-842|publisher=AIP Publishing|location=USA|issn=0034-6748|doi=10.1063/1.1139790|url=http://scitation.aip.org/content/aip/journal/rsi/59/6/10.1063/1.1139790|format=PDF}}</ref><ref>{{cite journal|author=B. S. Swartzentruber|year=1996|title=Direct measurement of surface diffusion using atom-tracking scanning tunneling microscopy|journal=Physical Review Letters|volume=76|issue=3|pages=459-462|publisher=American Physical Society|location=USA|issn=0031-9007|doi=10.1103/PhysRevLett.76.459|url=http://link.aps.org/doi/10.1103/PhysRevLett.76.459|format=PDF}}</ref><ref>{{cite conference|author=S. B. Andersson, D. Y. Abramovitch|year=2007|title=A survey of non-raster scan methods with application to atomic force microscopy|booktitle=Proceedings of the American Control Conference (ACC '07)|volume=|pages=3516-3521|publisher=IEEE|location=July 9-13, New York, USA|isbn=1-4244-0988-8|doi=10.1109/ACC.2007.4282301|url=http://ultra.bu.edu/papers/Andersson-Survey%20of%20non-raster%20scan%20methods-%20conference%20paper-%20missing%20from%20site.pdf|format=PDF}}</ref> — способ прецизионного измерения рельефа поверхности на [[Сканирующий атомно-силовой микроскоп|сканирующем зондовом микроскопе]], при котором особенности (объекты) поверхности служат в качестве опорных точек для привязки зонда микроскопа.