Рентгеноструктурный анализ: различия между версиями
| [непроверенная версия] | [непроверенная версия] |
Содержимое удалено Содержимое добавлено
Octy (обсуждение | вклад) Нет описания правки |
Нет описания правки |
||
Строка 1:
Факт явления дифракции рентг.лучей на кристаллах открыт [[Лауэ]], теор.обоснование явлению дали [[Вульф]] и [[Брэгг]] (''[[условие Вульфа-Брэгга]]''). Как метод Р.-с.А. разработан [[Дебай|Дебаем]] и [[Шеррер|Шеррером]].
▲Метод основан на явлении [[дифракция|дифракции]] [[рентгеновское излучение|рентгеновских лучей]] на трехмерной кристаллической решетке.
Метод позволяет определять [[атом]]ную структуру вещества, включающую в себя [[пространственная группа|пространственную группу]] [[элементарная ячейка|элементарной ячейки]], ее размеры и форму, а также определить группу [[симметрия кристаллов|симметрии кристалла]].
Отличие этого метода от других [[дифракционный метод|дифракционных методов]] исследования структуры вещества в том, что рассеяние рентгеновских лучей происходит на [[электрон]]ных оболочках атомов, в отличие от [[нейтронография|нейтронографии]], где рассеяние нейтрнов происходит на [[ядро|ядрах]] атомов.
Р.-с.А. и по сей день является самым распространенным методом определения структуры вещества в силу его простоты и отн.дешевизны.
[[Category:Приборы и методы экспериментальной физики]]
| |||