Лави́нный дио́д — подкласс полупроводниковых диодов с p-n переходом. Представляет собой разновидность стабилитрона. Обычно изготавливается из кремния.

Вольт-амперная характеристика лавинного диода. На рисунке в качестве примера показано, что при обратном напряжении на диоде 17,1 В начинается лавинный пробой, дальнейшее увеличение обратного напряжения вызывает быстрое нарастание тока. Для наглядности масштаб оси напряжений при прямом смещении диода увеличен.

Принцип действия

править

Работа лавинного диода основана на обратимом лавинном пробое p-n перехода при обратном включении, — то есть при подаче на слой с p-типом проводимости (анода) отрицательного относительно n-слоя (катода) напряжения.

Лавинный пробой возникает когда напряжённость электрического поля в p-n-переходе и длина свободного пробега носители заряда достаточна для ударной ионизации - образования пар электрон-дырка. При увеличении напряжения и соответственно электрического поля в обеднённом слое полупроводника количество порождённых пар нарастает, что вызывает нарастание тока, поэтому напряжение на лавинном диоде остаётся практически постоянным.

Особенности

править

В стабилитронах при обратном смещении перехода существуют два механизма обратимых пробоев — туннельный пробой (зенеровский) и лавинный, — но их относительный вклад зависит от удельного сопротивления базы диода, которое зависит от концентрации легирующей примеси, чем выше концентрация, тем ниже удельное сопротивление:

  • при низких удельных сопротивлениях напряжение обратного пробоя мало и пробой носит туннельный характер,
  • а при высоких напряжение пробоя выше и пробой — лавинный.

Удельное сопротивление базы диода также зависит от материала и типа проводимости базы. Так, например, для германия с его электронным типом проводимости равенство лавинной и туннельной составляющей тока наблюдается при удельном сопротивлении 1 Ом⋅см)[1].

Для лавинного пробоя характерно увеличение напряжения пробоя (стабилизации) при повышении температуры, так как при увеличении температуры сокращается длина свободного пробега носителей заряда и для развития лавинного размножения необходимо увеличивать напряжённость поля в обеднённом слое, о есть увеличивать напряжение. Для туннельного пробоя наоборот — напряжение пробоя (стабилизации) снижается с ростом температуры. При напряжении начала пробоя не свыше 5,1 В преобладает туннельный пробой. Если же напряжение пробоя превышает 5.1 В, — напротив преобладает лавинный пробой. Поэтому у стабилитронов с напряжением стабилизации 5,1 В отсутствует температурного дрейфа напряжения стабилизации, так как температурные дрейфы туннельного и лавинного пробоев имеют разный знак и взаимно компенсируют друг друга.

Таким образом, любые стабилитроны с напряжением стабилизации более 5,1 В можно считать лавинными диодами.

При медленном увеличении обратного напряжения заметно превысить напряжение пробоя (стабилизации) невозможно. Но при высокой скорости нарастания напряжения на диоде (  В/с) оказывается возможным приложение к p+-n-n+-структуре напряжения в полтора-два раза превышающее напряжения стационарного пробоя, после чего её сопротивление резко падает за время порядка 100 пикосекунд или даже быстрее. Такое сверхбыстрое изменение состояния стабилитрона (лавинного диода в частности) от непроводящего к проводящему обеспечивается за счет формирования и распространения волны ударной ионизации. На основе данного эффекта разработан прибор, изготавливаемый чаще всего из кремния, — диодный лавинный обостритель импульсов (англ. silicon avalanche sharpener, SAS diode).

Применение

править

Лавинные диоды в электронике применяются в качестве стабилитронов. Также лавинные диоды применяются для защиты электрических цепей от перенапряжений. Защитные лавинные диоды конструируют так, чтобы исключить шнурование тока тока в одной или нескольких точках p-n перехода, приводящую к локальному перегреву полупроводниковой структуры в этих точках, и, таким образом, исключения необратимого разрушения диода. Диоды, предназначенные для защиты от перенапряжения, часто называют супрессорами.

Лавинный пробой в диодах также используется в лавинных фотодиодах и диодных генераторах шума.

Литература

править
  • Зи, С. М. Физика полупроводниковых приборов. — М.: Мир, 1984. — Т. 1. — 456 с. — 16 000 экз.
  • Хоровиц П., Хилл У. Искусство схемотехники. — 3-е изд.. — М.: Мир, 1986. — Т. 1. — 598 с. — 50 000 экз.

Примечания

править
  1. Степаненко И. П. «Основы теории транзисторов и транзисторных схем» М., «Энергия», 1977 г.