Цернике, Фриц

Фриц Цернике (нидерл. Frits Zernike; 16 июля 188810 марта 1966) — голландский физик, лауреат Нобелевской премии по физике 1953 года «За обоснование фазово-контрастного метода, особенно за изобретение фазово-контрастного микроскопа».

Фриц Цернике
Frits Zernike
Zernike.jpg
Дата рождения 16 июля 1888(1888-07-16)
Место рождения Амстердам, Нидерланды
Дата смерти 10 марта 1966(1966-03-10) (77 лет)
Место смерти Амерсфорт, Нидерланды
Страна  Нидерланды
Научная сфера физика
Место работы
Альма-матер
Научный руководитель Andreas Smits[d][2]
Ученики Clasine van Winter[d][2]
Награды и премии Медаль Румфорда (1952)
Нобелевская премия Нобелевская премия по физике (1953)
Логотип Викисклада Медиафайлы на Викискладе

Член Нидерландской королевской академии наук (1946)[3], иностранный член Лондонского королевского общества (1956)[4].

БиографияПравить

Цернике родился в Амстердаме в семье Карла Фридриха Августа Цернике и Антье Диперинк. Родители были учителями математики, и он приобрёл страсть отца к физике. Он изучал химию (её основы), математику и физику в университете Амстердама. В 1912 году он был удостоен премии за работу по опалесценции в газах. В 1913 году он стал помощником Якоба Корнелиуса Каптейна в астрономической лаборатории университета Гронингена. В 1914 году он совместно с Леонардом Орнштейном[en] вывел уравнения Орнштейна — Цернике для теории критической точки. В 1915 году он получил место на кафедре теоретической физики в том же университете, и в 1920 году он был назначен профессором теоретической физики.

Основные трудыПравить

В 1930 году Цернике, проводя исследования по спектральным линиям, обнаружил, что так называемые спектральные духи, которые находятся слева и справа от каждой основной линии в спектрах, созданных с помощью дифракционной решётки, имеют сдвиг по фазе от первичной линии на 90 градусов. В 1933 году на физическом и медицинском конгрессе в г. Вагенинген Цернике впервые описал свой метод фазового контраста в приложении к микроскопии. Он использовал метод, чтобы проверить форму вогнутых зеркал. Его открытие легло в основу первого микроскопа на основе метода фазового контраста, построенного во время Второй мировой войны.

Ещё один вклад в области оптики связан с эффективным описанием дефектов изображений или аберраций оптических систем, таких как микроскопы и телескопы. Представление аберраций первоначально было основано на теории, разработанной Людвигом Зейделем в середине девятнадцатого века. Представление Зейделя было основано на разложении в степенной ряд и не позволяло провести чёткое разделение между различными типами и порядками аберраций. Ортогональные многочлены Цернике позволили решить эту давнюю проблему оптимальной "балансировки" различных аберраций оптических систем. С 1960-х полиномы Цернике широко используются в оптическом дизайне, оптической метрологии и анализе изображений.

Работы Цернике помогли пробудить интерес к теории когерентности[en], исследованиям частично когерентных источников света. В 1938 году он опубликовал более простой вывод теоремы ван Циттерта[en] (1934 год) о когерентности излучения от удалённых источников, ныне известной как теорема ван Циттерта — Цернике[en][5][6].

См. такжеПравить

ПримечанияПравить

  1. 1 2 Catalogus Professorum Academiae Groninganae — 2014.
  2. 1 2 Математическая генеалогия (англ.) — 1997.
  3. F. Zernike (1888 - 1966)
  4. Zernike; Frits (1888 - 1966)  (англ.)
  5. P.H. van Cittert. Die Wahrscheinliche Schwingungsverteilung in Einer von Einer Lichtquelle Direkt Oder Mittels Einer Linse Beleuchteten Ebene (нем.) // Physica : magazin. — 1934. — Bd. 1. — S. 201—210.
  6. F. Zernike. The concept of degree of coherence and its application to optical problems (англ.) // Physica : journal. — 1938. — Vol. 5. — P. 785—795.

СсылкиПравить